沖擊試樣X(jué)T-50缺口投影儀

沖擊試樣X(jué)T-50缺口投影儀概述

隨著國(guó)內(nèi)工業(yè)技術(shù)的發(fā)展，越來(lái)越多的行業(yè)已經(jīng)開(kāi)始執(zhí)行夏比V型缺口沖擊試驗(yàn)方法， 日前國(guó)內(nèi)諸如鍋爐壓力容器、冶金和機(jī)械等行業(yè)已普遍采用夏比V型缺口沖擊試驗(yàn)取代使用了幾十年的梅氏U型缺口沖擊試驗(yàn)。根據(jù)目前國(guó)內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和國(guó)標(biāo)GB/T229-2007《金屬材料夏比擺錘試驗(yàn)方法》中試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開(kāi)發(fā)的一種于檢查夏比V型（深2mm）和U型（深2mm）沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器，是廣大冶金、鍋爐壓力容器、車船和工程 機(jī)械制造及科研等部門理化實(shí)驗(yàn)室的*設(shè)備。也可根據(jù)客戶的要求定做，滿足檢測(cè) 3mm 或 5mm 沖擊試樣缺口的需要。

對(duì)于夏比V型缺口沖擊試驗(yàn)，由于試樣V型缺口要求嚴(yán)格（試樣缺口深2mm、呈45°角且試樣缺口*要求R0.25±0.025mm），故在整個(gè)試驗(yàn)過(guò)程中，試樣的V型缺口加工是否合格成了關(guān)鍵問(wèn)題，如果試樣缺口的加工質(zhì)量不合格，那么其試驗(yàn)的結(jié)果是不可信的，特別是R0.25mm缺口*的微小變化（其公差帶只有0.025mm），都會(huì)引起試驗(yàn)結(jié)果的陡跳，尤其是在試驗(yàn)的臨界值時(shí)會(huì)引起產(chǎn)品或報(bào)廢或合格兩種截然相反的結(jié)果。為保證加工出的夏比V型缺口合格，其缺口的加工質(zhì)量檢驗(yàn)是一個(gè)重要的質(zhì)量控制手段。用光學(xué)投影放大檢查是*切實(shí)可行并能保證檢查質(zhì)量的方法。CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我公司根據(jù)日前國(guó)內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-2007《金屬材料夏比缺口沖擊試驗(yàn)方法》試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開(kāi)發(fā)的一種于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器。

沖擊試樣缺口投影儀

原理

本投影儀發(fā)出的光線經(jīng)聚光鏡照射到被測(cè)物，再經(jīng)物鏡將被照射物體放大的輪廓投射在投影屏幕上。根據(jù)實(shí)際需要，本儀器為單一投射照明，光源通過(guò)一系列光學(xué)元件投射在工作臺(tái)上，再通過(guò)一系列光學(xué)元件將被測(cè)試樣缺口輪廓清晰的投射到投影屏上。物體經(jīng)二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的圖形與實(shí)際試樣放置的方向*。

產(chǎn)品特點(diǎn)

該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測(cè)的沖擊試樣V或U型缺口與標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對(duì)，以確定被檢測(cè)的沖擊試樣缺口加工是否合格，操作簡(jiǎn)便，檢查對(duì)比直觀、效率高，是*切實(shí)可行、并能保證檢查質(zhì)量的沖擊試樣缺口檢查方法，是相關(guān)理化試驗(yàn)室的*儀器。

適用行業(yè)

編輯

本投影儀是廣大冶金、鍋爐壓力容器、車船和工程機(jī)械制及科研等部門理化實(shí)驗(yàn)室的*設(shè)備。

該儀器還可用于機(jī)械零部件的外形輪廓、紡織物纖維、生物切片分析、工量刃具的檢驗(yàn)、儀表元件和半導(dǎo)體元件的投影檢測(cè)。滿足標(biāo)準(zhǔn)GB/T 229-2007 ASTM E23-2002a等技術(shù)要求。

技術(shù)參數(shù)

1、 放大倍數(shù)：50倍；

2、 投影屏直徑：200mm；

3、 工作臺(tái)尺寸：

方工作臺(tái)：110×125mm

圓工作臺(tái)：90mm

工作臺(tái)玻璃直徑：70 mm；

4、 工作臺(tái)行程：縱向：10 mm； 橫向：10 mm； 升降：12 mm（無(wú)刻度）；

5、 工作臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)范圍：0 — 360°；

6、 儀器放大倍率：50×

物鏡放大倍率：2.5×

投影物鏡放大倍率：20×；

7、 光源（鹵鎢燈）：12V/100W；

8、 電源：220V/50Hz；

9、 外形尺寸：515×224×603mm（長(zhǎng)×寬×高）；

10、重量：約18kg。